Particle Insight

全自動顆粒影像分析儀

Particle Insight是一款現代化的顆粒影像及粒徑分析儀,對於某些產業除重視粒徑數據外、也必須由顆粒形狀來確定原材料性能的應用相當重要,如顆粒之真圓度、長徑比等參數。Particle Insight將會是理想的分析設備。Particle Insight 除可與其他廠牌之雷射粒徑分析儀、庫爾特粒徑分析儀串接分析,亦可於外部進行任何樣品的前處理後進行循環分析,如加熱、攪拌、超音波分散等。

另,Particle Insight專用軟體亦可相容於Sysmex FPIA 3000型之數據,數據轉換無縫接軌。

分析範圍:1-2500um (須分段)。

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Elzone II 5390

電阻法顆粒計數與粒徑分析儀

ElzoneⅡ顆粒計數與粒徑分析儀採用電阻法-庫爾特原理分析技術,可迅速、精確地檢測顆粒材料的粒徑、數目、濃度等技術指標。ElzoneⅡ被廣泛應用於工業、生物、地質等粒徑大於0.4μm的顆粒,具有極高的準確度和解析度,操作簡便。

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Saturn DigiSizer II

全自動數字式鐳射粒徑分析儀

Micromeritic以航太級CCD作為檢測器,Saturn DigiSizer雷射粒徑分析儀在分析過程中可獲得樣品的最精確的光散射圖譜。DigiSizer不需要使用光學校準機械微調裝置、CCD陣列自動定位,CCD偵測器解析度高達300萬。上述優勢有助於使用者獲得更精確、更難分辨的樣品粒徑數據。分析範圍0.04-2500um。


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SediGraph III plus

全自動Χ光沉降粒徑分析儀

SediGraph使用沉降法分析溶液中不同粒徑的固體顆粒。經由對X-ray的吸收測量可以直接檢測固體顆粒物的質量濃度。測定一定密度顆粒在已知密度和黏度的液體中的沉降,再套用Stoke方程式來計算顆粒的等效球體直徑。而報告中的粒徑就是與樣品具有相同沉降速度等效球體的直徑。

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