快速比表面積及孔徑分析儀

設計特點

產品分類

Gemini VII 2390 a

快速準確的單點、多點BET和Langmuir方法分析表面積。此外，提供標準方法分析總孔體積、t-方法分析微孔等等。包括測定碳黑統計厚度表面積（STSA）（參考ASTM D 6556、ASTM D 3765、ISO/DIS 18852.2或ISO/CD 4652-2/3。）

Gemini VII 2390 p

提供精確的飽和壓力（P₀）管，使系統於分析過程中可連續的監控吸附飽和壓力。此特點允許快速測量吸附等溫線至飽和，以確定孔徑分佈。

Gemini VII 2390 t

2390 t具備2390 p的所有能力，包含一個P₀管、一個更大的杜瓦瓶與更長的樣品管以延長分析，提供了完整吸附–脫附程序的附加功能。根據此數據集，可使用多達1000個數據點執行BJH或Dollimore-Heal孔徑分佈。

產品特點

• 單點、多點BET和Langmuir比表面積快速準確測量的理想工具。

• 同時提供t-polt和其它多種方法進行總孔體積與微孔分析，包括測定碳黑統計厚度表面積（STSA）的功能（參考ASTM D 6556, ASTM D 3765, ISO/DIS 18852.2,或ISO/CD 4652-2/3）

• 可配備飽和壓力（Po）管，在分析過程中即時監測飽和壓力。此設計允許快速測量吸附等溫線至飽和，以確定孔徑分佈。

• 可配備大容量杜瓦瓶以及更長的樣品管，可分析吸附-脫附等溫線，數據擷取可多達2000個點。

• 可使用任何氣體，死體積（Dead volume）的測試可以不使用氦氣。

• 可選擇滿足FDA要求的Confirm 21 CFR Part 11軟體。IQ和OQ認證服務，確保該系統的準確性、可靠性和一致性，保障分析記錄的完整性。

• 儀器結合了平衡技術，引入樣品管與平衡管雙管設計，完全排除當液氮之液面下降而造成的自由體積誤差。

• 自由空間校正可以不使用氦氣，和高精度的測量模式。

• 儀器軟體包含的數據處理方法：

              系統確效測試。

              單點和多點BET比表面積。

              Langmuir比表面積。

              Temkin and Freundlich等溫線分析。

              總孔體積。

              使用Halsey, Harkins-Jura或碳黑STSA厚度曲線的t-plot方法獲得之微孔總體積與面積。

              Horvath-Kawazoe微孔孔徑分佈。

              使用BJH吸附等溫線的孔徑大小分佈（限定2390 p與2390 t機型）。

              BJH等溫吸附脫附，1000個數據點（限定2390 t機型）。

應用領域

適用於各種材料的研究與產品測試，包括測量沸石、碳材料、分子篩、二氧化矽、氧化鋁、土壤、黏土、有機金屬化合物骨架結構等各種材料。