雙鏡頭雷射粒徑分析儀

Bettersize2000雷射粒徑分析儀是一種採用雙鏡頭技術的一體化粒徑分析儀。它的散射光發生與偵測系統是由一個大功率光纖半導體雷射器、樣品池、兩個高精度的進口透鏡組和兩組光電探測器陣列組成。此光學系統能在單光束狀態下使前向和後向散射光信號都能被同時有效接收，同時高精度透鏡組保證了即使是很微弱的散射光信號都能有效地彙聚到偵測器上，使儀器的量程、重複性、準確性和解析度等主要指標都達到了最高水準。